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SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

  • Days

    From 12 December 2017 To 15 December 2017

  • Address

    CNR IMM Bologna, Via Gobetti 101, 40129 - Bologna, Italy

  • Brochure :

events content
La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).
Price bundles
  1. FULL REGISTRATION Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

    Full registration


  2. STUDENT REGISTRATION Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

    Student registration


Gallery

Contatti evento:
Dr. Roberto BALBONI

CNR

CNR-IMM - Sez. Bologna

Phone : 051/6399186

balboni@bo.imm.cnr.it