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La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).

1. FULL REGISTRATION Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Full registration



2. STUDENT REGISTRATION Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Student registration

L’evento, organizzato dalla Società Italiana di Scienze Microscopiche, con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell’Università degli Studi di Urbino Carlo Bo, è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio e della conservazione della biodiversità. Il Workshop sarà focalizzato sull’applicazione di diverse tecniche di microscopia ottica ed elettronica in questo settore. Vari aspetti della biodiversità vegetale, animale e degli organismi unicellulari, esaminati attraverso diverse tecniche microscopiche, saranno illustrati da studiosi specialisti. Oltre a relazioni in aula si terranno esercitazioni pratiche nei laboratori del Campus Scientifico e vi sarà uno spazio dedicato alle Aziende. E’ prevista infine una sessione poster che saranno esposti per l’intera durata del workshop.

1. QUOTA D'ISCRIZIONE Members : €150.00  Non-Members :€ 200.00

   workshop



2. ISCRIZIONE RIDOTTA Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Dip. ARPAM, studenti

The school will take place at the Istituto Officina dei Materiali (IOM), located in the AREA Science Park, Basovizza - Trieste, in Italy. The school will be open to a maximum of 24 participants. A minimum number of 10 attendees is required to activate the courses. Registration to the school is obtained by signing up before March 15th. Students and young researchers with a temporary position can claim an additional 30% discount on the fees (VAT excluded). For any payment an invoice will be issued. Please note that, for employees of Italian public institutions, the fee is exempt from VAT (Article 10 of DPR 633/72).

1. REGULAR Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Standard registration



2. STUDENT Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Student and temporay staff registration

La scuola, organizzata dalla SISM e dagli Istituti IMM-Bologna e IOM-Trieste del CNR, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali.
È rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali.
La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche.
A causa delle restrioni imposte dalla epidemia COVID, la scuola avrà luogo solo in modalità on-line.
Verranno organizzate sessioni in modalità remota per tutti i partecipanti sia per la parte teorica che per la parte pratica.

1. CORSO COMPLETO (sold out) Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Corso completo (teoria e pratica)



2. CORSO COMPLETO STUDENTI(sold out) Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Corso completo per studenti, PhD, pers. non strutturato



3. CORSO TEORICO(sold out) Members : €150.00  Non-Members :€ 200.00

   Solo parte teorica



4. CORSO TEORICO STUDENTI(sold out) Members : €105.00  Non-Members :€ 140.00

   Solo parte teorica per studenti, PhD, pers. non strutturato



5. CORSO COMPLETO ON-LINE Members : €100.00  Non-Members :€ 100.00

   Corso completo on-line COVID

The school, organized by SISM and the IMM-Bologna Institute of the CNR, will provide the basic physical concepts and principles for the use of Scanning Electron Microscopy and Microanalysis techniques in the field of Materials Science. It is aimed at researchers, technicians and students who wish to acquire the skills necessary for the correct use of scanning electron microscopy (SEM), related analytical techniques and focused ion beams (FIB) for the study and characterization of materials. The school includes both theoretical and practical sessions.
The official language will be English.

Participation to the School will be allowed up to a maximum of 24 participants. A minimum number of 10 attendees is required to activate the School.

The school is open to SISM and EMS members. Non members are also welcomed to the School and will be requested to apply for a temporary membership during the registration process. Please follow the instruction in the registration page.

1. FULL COURSE Members : €350.00  Non-Members :€ 400.00

   Theoretical/practical course



2. FULL COURSE FOR STUDENTS Members : €320.00  Non-Members :€ 320.00

   Theoretical/practical course for students