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Il Corso intende fornire una visione generale delle possibilità che queste microscopie offrono ai ricercatori in ambito botanico, sia per quanto riguarda lo studio di campioni vegetali (piante, micro-alghe, ecc.) che delle loro interazioni con l’ambiente esterno. Il corso si compone di lezioni frontali e di una parte pratica che verrà svolta presso i laboratori del CIGS (Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti dell’Università di Modena e Reggio Emilia). Il numero di iscritti è limitato a 12 persone per facilitare sia l’interazione con i docenti che lo svolgimento delle sessioni strumentali.

1. FULL FEE Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

   Full fee



2. S.I.I. OR S.B.I. MEMBERS Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

   S.I.I. or S.B.I. members



3. STUDENT Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Student, PhD, post-doc

La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).

1. FULL REGISTRATION Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Full registration



2. STUDENT REGISTRATION Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Student registration

Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “14° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche” ed il “7°Corso di Microscopia Elettronica SEM e S(T)EM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il primo corso è indirizzato a tutti coloro che siano interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico ed ha la finalità di apprendere metodiche e procedure utili ad acquisire immagini informative e di qualità. Nella prima giornata, il corso prevede lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, incluso un nuovo microscopio rovesciato Leica DMi8 con AFC e XYZ motorizzati, utile anche a metodiche che necessitino di FLIM o di super-risoluzione. La seconda giornata di corso sarà incentrata sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte individualmente al computer. Il secondo corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia elettronica a scansione (anche in modalità S(T)EM con detector per elettroni trasmessi) soprattutto in ambito biomedico. Il corso prevede lezioni sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte al computer, lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità.

1. CORSO COMPLETO Members : €200.00  Non-Members :€ 350.00

   Corso Confocale + Elettronica



2. CONFOCALE Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

   Corso Confocale



3. ELETTRONICA Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

   Corso Elettronica



4. CORSO COMPLETO RIDOTTO Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

   Corso Confocale + Elettronica soci SIICS e studenti



5. CONFOCALE RIDOTTO Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Corso Confocale soci SIICS e studenti



6. ELETTRONICA RIDOTTO Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Corso Elettronica soci SIICSe e studenti

The school will take place at the Istituto Officina dei Materiali (IOM), located in the AREA Science Park, Basovizza - Trieste, in Italy. The school will be open to a maximum of 24 participants. A minimum number of 10 attendees is required to activate the courses. Registration to the school is obtained by signing up before March 15th. Students and young researchers with a temporary position can claim an additional 30% discount on the fees (VAT excluded). For any payment an invoice will be issued. Please note that, for employees of Italian public institutions, the fee is exempt from VAT (Article 10 of DPR 633/72).

1. REGULAR Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Standard registration



2. STUDENT Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Student and temporay staff registration

Descrizione !!! ATTENZIONE: SONO DISPONIBILI POSTI SOLO PER IL CORSO TEM !!! Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM) organizzano l' “11°Corso di Microscopia Elettronica a Trasmissione TEM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il corso TEM è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia elettronica a trasmissione, particolarmente in ambito biologico. Il corso prevede lezioni sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte al computer, lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sul nuovo TEM Talos F200S (Thermo), al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità. NB: per ragioni amministrative i partecipanti dovranno essere iscritti alla SISM. Le quote d'iscrizione comprendono la quota sociale annuale.

1. INTERA 2 CORSI(sold out) Members : €250.00  Non-Members :€ 400.00

   Quota intera due corsi



2. INTERMEDIA 2 CORSI(sold out) Members : €350.00  Non-Members :€ 350.00

   Quota due corsi per soci GEI-SIBSC e/o UZI



3. RIDOTTA 2 CORSI(sold out) Members : €250.00  Non-Members :€ 250.00

   Quota due corsi per studenti e dottorandi



4. INTERA CORSO TEM Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

   Quota intera corso TEM



5. INTERMEDIA CORSO TEM Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

   Quota corso TEM per soci GEI-SIBSC e/o UZI



6. RIDOTTA CORSO TEM Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Quota corso TEM per studenti e dottorandi

The school, organized by SISM and the IMM-Bologna Institute of the CNR, will provide the basic physical concepts and principles for the use of Scanning Electron Microscopy and Microanalysis techniques in the field of Materials Science. It is aimed at researchers, technicians and students who wish to acquire the skills necessary for the correct use of scanning electron microscopy (SEM), related analytical techniques and focused ion beams (FIB) for the study and characterization of materials. The school includes both theoretical and practical sessions.
The official language will be English.

Participation to the School will be allowed up to a maximum of 24 participants. A minimum number of 10 attendees is required to activate the School.

The school is open to SISM and EMS members. Non members are also welcomed to the School and will be requested to apply for a temporary membership during the registration process. Please follow the instruction in the registration page.

1. FULL COURSE Members : €350.00  Non-Members :€ 400.00

   Theoretical/practical course



2. FULL COURSE FOR STUDENTS Members : €320.00  Non-Members :€ 320.00

   Theoretical/practical course for students