WORKSHOPS

Microscopia e Biodiversità

  • Days

    From 26 November 2018 To 27 November 2018

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    Campus Scientifico E. Mattei, Università degli Studi di Urbino

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    Brochure :

events content
L’evento, organizzato dalla Società Italiana di Scienze Microscopiche, con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell’Università degli Studi di Urbino Carlo Bo, è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio e della conservazione della biodiversità. Il Workshop sarà focalizzato sull’applicazione di diverse tecniche di microscopia ottica ed elettronica in questo settore. Vari aspetti della biodiversità vegetale, animale e degli organismi unicellulari, esaminati attraverso diverse tecniche microscopiche, saranno illustrati da studiosi specialisti. Oltre a relazioni in aula si terranno esercitazioni pratiche nei laboratori del Campus Scientifico e vi sarà uno spazio dedicato alle Aziende. E’ prevista infine una sessione poster che saranno esposti per l’intera durata del workshop.
Price bundles
  1. QUOTA D'ISCRIZIONE Members : €150.00  Non-Members :€ 200.00

    workshop



Contatti evento:
Professor Maria Balsamo

Università degli Studi di Urbino ''Carlo Bo''

DiSB

Phone : 0722304251

maria.balsamo@uniurb.it

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2018-2019 Pier Giorgio Merli (S)TEM SCHOOL IN MATERIALS SCIENCE

  • Days

    From 19 November 2018 To 23 November 2018

    From 4 February 2019 To 8 February 2019

  • Address

    CNR - IMM Sezione di Bologna
    Area della Ricerca
    Via P. Gobetti 101, 40129 Bologna, Italy

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    Brochure :

events content
The “Pier Giorgio Merli” Transmission Electron Microscopy School, jointly organised by SISM and CNR-IMM, has gained its 7th edition. As in previous editions, in two full weeks, following a well tested series of theoretical and practical lessons, the School will provide students and researchers with a qualified introduction to Transmission and Scanning Transmission Electron Microscopy techniques for materials science.

        The first theoretical part of the School (November 19-23, 2018) will start with a presentation of the elements of electron optics needed to introduce the TEM/STEM working principles and will continue with a comprehensive lesson on radiation damage to warn the students of the downsides and the possible artefacts of these powerful investigation techniques. Some essential aspects of the theory of the electron diffraction will then be used to describe the elastic interaction of the electron beam with the crystalline sample and the electron microscopy techniques that immediately follow: Selected Area and Convergent Beam Electron Diffraction (SAED and CBED). Examples of their application for crystallographic phases identification and strain determination will be illustrated. Basic crystallography notions will be also recalled in a specific lesson. The contrast mechanisms in TEM and STEM (diffraction, phase and mass-thickness) will be successively presented for their importance in studies of lattice defects, nanoparticles and nanotubes in solids and devices. In recent year, TEM/STEM imaging techniques have attained atomic resolution for all the materials of interest in materials science. In our course, a unique theory of image formation will be used to describe both the coherent (HREM) and incoherent (HAADF-STEM) approach to these high resolution techniques. The main aspects of the inelastic interaction of the electron beam with the sample will be presented to describe the two essential analytical techniques for compositional analysis: EDS and EELS. Finally, electron holography and interferometric methods will be introduced to show either the possibility to record the phase of the electron wave and to determine electric potential variations inside the samples or as alternative techniques in phase analysis and strain determination.

        In the second week (February 4-8, 2019), what learnt during the first half of the school will be put into practice. Students, under teacher’s supervision, will be allowed to directly operate on the 200 kV Schottky FEG TEM-STEM (FEI Tecnai F20 ST) installed at the CNR-IMM Institute. During this week, students will be also trained to the use of some of the available simulation and data processing software essential for TEM/STEM work. Selected presentations of new products by representatives of TEM/STEM manufacturers, sample preparation instruments and accessories for electron microscopy are also planned.

        At the end of the School a certificate of attendance will be given to all the participants and upon request a certificate of the acquired skills, that may be also used for obtaining academic credits, may be issued after passing a written examination.

As participation to the School is open to people from all countries the official language is English.

Important notice: participants may choose to attend either the whole course or the theoretical part only (it is not possible to register for the practical course only). As to the practical course, to guarantee enough operating time to all the students, the maximum number of participants is limited to 10. The School will take place only if a minimum number of 6 registrations to both the theoretical and practical courses will be reached.
Price bundles
  1. THEORETICAL AND PRACTICAL Members : €1360.00  Non-Members :€ 1700.00

    Full course


  2. THEORETICAL AND PRACTICAL - STUDENT Members : €952.00  Non-Members :€ 1190.00

    Full course at reduced price for students


  3. THEORETICAL PART Members : €560.00  Non-Members :€ 700.00

    Theoretical course only


  4. THEORETICAL PART - STUDENTS Members : €392.00  Non-Members :€ 490.00

    Theoretical course only at reduced price for students



Contatti evento:
Dr. Andrea PARISINI

CNR-IMM

Sezione di Bologna

Phone : 051-6399149

parisini@bo.imm.cnr.it

Corso di Microscopia Confocale ed Elettronica SEM e (S)TEM

  • Days

    From 19 September 2018 To 21 September 2018

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    CIGS - Università di Modena e Reggio Emilia via Campi 213/D 41125 Modena

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    Brochure :

events content
Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “14° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche” ed il “7°Corso di Microscopia Elettronica SEM e S(T)EM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il primo corso è indirizzato a tutti coloro che siano interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico ed ha la finalità di apprendere metodiche e procedure utili ad acquisire immagini informative e di qualità. Nella prima giornata, il corso prevede lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, incluso un nuovo microscopio rovesciato Leica DMi8 con AFC e XYZ motorizzati, utile anche a metodiche che necessitino di FLIM o di super-risoluzione. La seconda giornata di corso sarà incentrata sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte individualmente al computer. Il secondo corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia elettronica a scansione (anche in modalità S(T)EM con detector per elettroni trasmessi) soprattutto in ambito biomedico. Il corso prevede lezioni sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte al computer, lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità.
Price bundles
  1. CORSO COMPLETO Members : €200.00  Non-Members :€ 350.00

    Corso Confocale + Elettronica


  2. CONFOCALE Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

    Corso Confocale


  3. ELETTRONICA Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

    Corso Elettronica


  4. CORSO COMPLETO RIDOTTO Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

    Corso Confocale + Elettronica soci SIICS e studenti


  5. CONFOCALE RIDOTTO Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

    Corso Confocale soci SIICS e studenti


  6. ELETTRONICA RIDOTTO Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

    Corso Elettronica soci SIICSe e studenti



Contatti evento:
Dr. Massimo TONELLI

Università di Modena

CIGS

Phone : 059-2055737

massimo.tonelli@unimore.it

Microscopia e Imaging negli alimenti e nella nutraceutica

  • Days

    From 25 June 2018 To 27 June 2018

  • Address

    Università di Urbino Aula Magna Campus Scientifico “Enrico Mattei” (Urbino) e ARPAM, Dipartimento di Pesaro

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    Brochure :

events content
L’evento viene organizzato dalla Società Italiana di Scienze Microscopiche, con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell’Università degli Studi di Urbino Carlo Bo e con il patrocinio della Società Italiana di Istochimica. E’ dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici, studenti e a realtà aziendali che operano nel campo delle microscopie applicate agli alimenti e alla nutraceutica. Relatori in aula presenteranno i loro risultati ottenuti utilizzando le varie microscopie (ottica, elettronica TEM/SEM/ESEM/EDAX, microscopia confocale, immunocitochimica, microscopie a sonda...... ) e tecniche di imaging specifico (TAC, NMR .... ) nello studio di alimenti e di modelli di nutraceutica di vario tipo . Oltre a relazioni in aula si terranno esercitazioni pratiche nei laboratori del Campus Scientifico e nel laboratorio ESEM presso l'ARPAM di Pesaro. Ci saranno infine interventi tecnico- strumentali di aziende interessate, oltre ad una sessione poster .
Price bundles
  1. REGISTRATION Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

    Standard Registration


  2. REDUCED REGISTRATION Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

    Dipendenti ARPAM , dottorandi ,assegnisti , studenti



Contatti evento:
Professor Elisabetta Falcieri

Universit???? di Urbino Carlo Bo

Dipartimento di Scienze Biomolecolari

Phone : +390722304284

elisabetta.falcieri@uniurb.it

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

  • Days

    From 12 December 2017 To 15 December 2017

  • Address

    CNR IMM Bologna, Via Gobetti 101, 40129 - Bologna, Italy

  • Brochure :

events content
La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).
Price bundles
  1. FULL REGISTRATION Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

    Full registration


  2. STUDENT REGISTRATION Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

    Student registration


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Contatti evento:
Dr. Roberto BALBONI

CNR

CNR-IMM - Sez. Bologna

Phone : 051/6399186

balboni@bo.imm.cnr.it

I° Corso Microscopia elettronica e confocale in ambito botanico

  • Days

    From 4 December 2017 To 5 December 2017

  • Address

    Area scientifica di Via Campi, Modena

  • Brochure :

events content
Il Corso intende fornire una visione generale delle possibilità che queste microscopie offrono ai ricercatori in ambito botanico, sia per quanto riguarda lo studio di campioni vegetali (piante, micro-alghe, ecc.) che delle loro interazioni con l’ambiente esterno. Il corso si compone di lezioni frontali e di una parte pratica che verrà svolta presso i laboratori del CIGS (Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti dell’Università di Modena e Reggio Emilia). Il numero di iscritti è limitato a 12 persone per facilitare sia l’interazione con i docenti che lo svolgimento delle sessioni strumentali.
Price bundles
  1. FULL FEE Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

    Full fee


  2. S.I.I. OR S.B.I. MEMBERS Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

    S.I.I. or S.B.I. members


  3. STUDENT Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

    Student, PhD, post-doc



Contatti evento:
Dr. Massimo TONELLI

Università di Modena

CIGS

Phone : 059-2055737

massimo.tonelli@unimore.it

CORRELATIVE MICROSCOPY IN LIFE AND MATERIALS SCIENCES

  • Days

    From 6 November 2017 To 7 November 2017

  • Address

    Istituto Superiore di Sanità, Aula Bovet

  • Brochure :

events content
The conference aims to update participants on innovative microscopy equipment which, by correlating the various features of optical and electron microscopy, can maximize the potential applications of morphological and ultrastructural methods. The conference will address the limits of sample preparation, the optimization of image processing, and the critical analysis of experimental results with different materials.
Price bundles
  1. FREE ENTRANCE Members : €0.00  Non-Members :€ 0.00

    ingresso gratuito , iscrizione obbligatoria



Contatti evento:
Dr. Stefania Meschini

Istituto Superiore di Sanita'

Dip.to di Tecnologia e Salute

Phone : 06 4990 2783

stefania.meschini@iss.it

Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica SEM/S(T)EM

  • Days

    30 November -0001

  • Address

    Universitá degli Studi di Modena e Reggio Emilia, Modena

  • Brochure :

events content
Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “13° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche” ed il “7°Corso di Microscopia Elettronica SEM e S(T)EM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il primo corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico mentre il secondo è dedicato all'utilizzo della microscopia elettronica a scansione (anche in modalità S(T)EM con detector per elettroni trasmessi) soprattutto in ambito biomedico. Entrambi i corsi prevedono lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche in laboratorio. Per informazioni: dott. Malagoli (davide.malagoli@unimore.it), dott.ssa Accorsi (alice.accorsi@unimore.it).
Price bundles
  1. CORSO COMPLETO Members : €200.00  Non-Members :€ 350.00

    Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica SEM/S(T)EM


  2. CORSO COMPLETO - QUOTA RIDOTTA Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

    Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica SEM/S(T)EM


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Contatti evento:
Dr. Massimo TONELLI

Università di Modena

CIGS

Phone : 059-2055737

massimo.tonelli@unimore.it

La Microscopia Elettronica applicata allo studio dei Beni Culturali Workshop teorico-pratico

  • Days

    From 6 February 2017 To 7 February 2017

  • Address

    Urbino

  • Brochure :

events content
L'evento, organizzato dalla SISM con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell' Università di Urbino Carlo Bo, è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazione e del restauro dei beni culturali. Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni della microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici. Oggetto delle relazioni sarà la caratterizzazione morfologica ultrastrutturale e chimica dei materiali costitutivi delle opere d' arte, in particolare pietre, ceramiche, vetri, metalli, monili, campioni policromi, legno, carta, pergamena, tessuti e materiali polimerici. Verranno inoltre organizzate esercitazioni pratiche sulla preparazione di campioni specifici e verranno dedicati appositi spazi alle aziende del settore. E' prevista infine una sessione di poster, che saranno esposti per tutta la durata del workshop. Gli abstract delle relazioni e dei poster verranno pubblicati su Microscopie. pippo
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  1. ISCRIZIONE ORDINARIA Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

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  2. DOTTORANDI, ASSEGNISTI, STUDENTI Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

    Lorem ipsum dolor s


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Contatti evento:
Professor Elisabetta Falcieri

Universit???? di Urbino Carlo Bo

Dipartimento di Scienze Biomolecolari

Phone : +390722304284

elisabetta.falcieri@uniurb.it