WORKSHOPS

La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).

1. FULL REGISTRATION Members : €300.00  Non-Members :€ 400.00

   Full registration



2. STUDENT REGISTRATION Members : €210.00  Non-Members :€ 280.00

   Student registration

Il Corso intende fornire una visione generale delle possibilità che queste microscopie offrono ai ricercatori in ambito botanico, sia per quanto riguarda lo studio di campioni vegetali (piante, micro-alghe, ecc.) che delle loro interazioni con l’ambiente esterno. Il corso si compone di lezioni frontali e di una parte pratica che verrà svolta presso i laboratori del CIGS (Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti dell’Università di Modena e Reggio Emilia). Il numero di iscritti è limitato a 12 persone per facilitare sia l’interazione con i docenti che lo svolgimento delle sessioni strumentali.

1. FULL FEE Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

   Full fee



2. S.I.I. OR S.B.I. MEMBERS Members : €200.00  Non-Members :€ 200.00

   S.I.I. or S.B.I. members



3. STUDENT Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Student, PhD, post-doc

The conference aims to update participants on innovative microscopy equipment which, by correlating the various features of optical and electron microscopy, can maximize the potential applications of morphological and ultrastructural methods. The conference will address the limits of sample preparation, the optimization of image processing, and the critical analysis of experimental results with different materials.

1. FREE ENTRANCE Members : €0.00  Non-Members :€ 0.00

   ingresso gratuito , iscrizione obbligatoria

Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “13° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche” ed il “7°Corso di Microscopia Elettronica SEM e S(T)EM: Basi Teoriche e Pratiche”. Il primo corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico mentre il secondo è dedicato all'utilizzo della microscopia elettronica a scansione (anche in modalità S(T)EM con detector per elettroni trasmessi) soprattutto in ambito biomedico. Entrambi i corsi prevedono lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche in laboratorio. Per informazioni: dott. Malagoli (davide.malagoli@unimore.it), dott.ssa Accorsi (alice.accorsi@unimore.it).

1. CORSO COMPLETO Members : €250.00  Non-Members :€ 400.00

   Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica SEM/S(T)EM



2. UN SOLO CORSO Members : €150.00  Non-Members :€ 250.00

   Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica SEM/S(T)EM

L'evento, organizzato dalla SISM con il supporto del Dipartimento di Scienze Biomolecolari dell' Università di Urbino Carlo Bo, è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazione e del restauro dei beni culturali. Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni della microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici. Oggetto delle relazioni sarà la caratterizzazione morfologica ultrastrutturale e chimica dei materiali costitutivi delle opere d' arte, in particolare pietre, ceramiche, vetri, metalli, monili, campioni policromi, legno, carta, pergamena, tessuti e materiali polimerici. Verranno inoltre organizzate esercitazioni pratiche sulla preparazione di campioni specifici e verranno dedicati appositi spazi alle aziende del settore. E' prevista infine una sessione di poster, che saranno esposti per tutta la durata del workshop. Gli abstract delle relazioni e dei poster verranno pubblicati su Microscopie. pippo

1. ISCRIZIONE ORDINARIA Members : €200.00  Non-Members :€ 250.00

   Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit. Aliquam auctor orci diam, nec cursus lectus mattis sit amet.



2. DOTTORANDI, ASSEGNISTI, STUDENTI Members : €150.00  Non-Members :€ 150.00

   Lorem ipsum dolor s