SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE
12/12/17
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Days
From 12 December 2017 To 15 December 2017
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Address
CNR IMM Bologna, Via Gobetti 101, 40129 - Bologna, Italy
La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).
Event contact details::
Dr. Roberto BALBONI
CNR
IMM - Sez. Bologna
Phone : 051/6399186
balboni@bo.imm.cnr.it