EVENT DETAILS

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

12/12/17

  • Days

    From 12 December 2017 To 15 December 2017

  • Address

    CNR IMM Bologna, Via Gobetti 101, 40129 - Bologna, Italy

  • Brochure :

La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).
Contatti evento:
Dr. Vittorio MORANDI

CNR-IMM

CNR-IMM Sezione Bologna

Phone : 051-6399144

morandi@bo.imm.cnr.it