Aldo Armigliato SEM School in Materials Science

La scuola, organizzata dalla SISM e dagli Istituti IMM-Bologna e IOM-Trieste del CNR, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali.
È rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali.
La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche.
A causa delle restrioni imposte dalla epidemia COVID, la scuola avrà luogo solo in modalità on-line.
Verranno organizzate sessioni in modalità remota per tutti i partecipanti sia per la parte teorica che per la parte pratica.