21-08-2017 12:03  

Versione Italiana     English version


 Home
 Cos'è la SISM
 Direttivo
 Sede Legale
 La rivista Microscopie
 Area Soci
 Eventi SISM
 Altri eventi
 Approfondimenti
 Download
 Link esterni
 Galleria Fotografica
 Login

 

Eventi SISM

Microscopia elettronica e tecniche di imaging per lo studio degli alimenti
Workshop

Università degli Studi di Verona, Istituti Biologici, strada Le Grazie 8, Verona
19 giugno 2015

L'evento, organizzato dalla SISM con il supporto del Dipartimento di Scienze Neurologiche e del Movimento dell'Università degli Studi di Verona, è dedicato a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che si interessano allo studio, alla caratterizzazione ed al controllo di qualità degli alimenti. Relatori qualificati illustreranno le potenzialità offerte dall’integrazione di tecniche avanzate di microscopia elettronica e di imaging (optical imaging, risonanza magnetica nucleare) per lo studio di diverse problematiche alimentari.

Email: manuela.malatesta@univr.it

Download Brochure

Registrazione e pagamento on line ⇒



Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica TEM/STEM
Corso teorico-pratico

Universitá degli Studi di Modena e Reggio Emilia, Modena
23-25 Settembre 2015

La Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS), il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, organizzano i due corsi integrati che sono indirizzati a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base di entrambe le tecniche di indagine, con particolare riferimento all'ambito biomedico. I corsi prevedono sia sessioni teoriche che pratiche, più una sessione, comune ad entrambi i corsi, dedicata all’utilizzo e la gestione delle immagini digitali. Per informazioni: dott. Malagoli (davide.malagoli@unimore.it), dott.ssa Benatti (stefania.benatti@unimore.it).

Download Brochure



La Microscopia elettronica applicata allo studio dei Beni Culturali.
Workshop

Università degli Studi di Urbino, Campus Scientifico ''E.Mattei''
28-29 settembre 2015

Con il supporto del Dipartimento di Scienze della Terra, della Vita e dell' Ambiente dell' Università degli Studi di Urbino Carlo Bo, la SISM organizzerà nuovamente questo evento, presso il Campus Scientifico di Urbino. Rispetto a quello dello scorso autunno -i cui contributi scientifici sono pubblicati su Microscopie, marzo 2015,37- , é in programma anche una parte pratica, su campioni specifici, come ripetutamente richiesto nel corso dell' edizione precedente. Le due giornate saranno rivolte a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazioni e del restauro dei beni culturali. Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni della microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici. Autorevoli relatori illustreranno, nell' Aula Magna del Campus di Urbino, i loro dati più recenti sulla caratterizzazione morfologica ultrastrutturale e chimica dei materiali costitutivi le opere d' arte, in particolare pietre, ceramiche, vetri, metalli, monili, materiali policromi, legno, carta, pergamena, tessuti e materiali polimerici.

Email: elisabetta.falcieri@uniurb.it

Download Brochure

Registrazione e pagamento on line ⇒



Scuola di microscopia elettronica a scansione su materiali nanostrutturati e applicazioni innovative

CNR-IOM, Area Science Park - Basovizza, Trieste
12-14 Ottobre 2014

La scuola, organizzata dalla SISM in collaborazione con il CNR-IOM, si propone di fornire i concetti e i principi fisici di base della microscopia elettronica a scansione con particolare riferimento ai materiali nanostrutturati. La Scuola, rivolta sia a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia sia a chi opera nel campo dei materiali nanostrutturati, prevede una parte teorica sul SEM (elementi di ottica elettronica, interazione elettrone-materia, rivelatori e segnali, microanalisi) e sulle applicazioni innovative nel campo dei materiali nanostrutturati e di interesse industriale, dalla fabbricazione di nano-dispositivi mediante litografia elettronica e FIB, alla diagnostica, failure analisi e caratterizzazione in-situ di trasporto elettrico e meccanico; una parte pratica che verrà a condotta ad un microscopio elettronico a scansione con sorgente FEG e ad un sistema Dual Beam a Fascio Ionico Focalizzato e presentazioni di novità strumentali da parte delle aziende attive nel settore. Verrà offerta la possibilità di osservare campioni portati dai partecipanti.

Email: ciancio@iom.cnr.it

Download Brochure

http://semschool.iom.cnr.it

Registrazione e pagamento on line ⇒



Copyright © 2011 - SISM All rights reserved - Webmaster Mino Elefante