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Eventi SISM

Nanotecnologie in campo biomedico: nanodrug delivery
Contributi delle microscopie allo sviluppo delle nanotecnologie in campo biomedico

Roma, Istituto Superiore di Sanità, 12 Maggio 2010.

La giornata di studio, organizzata dal Dipartimento di Tecnologie e salute dell’Istituto Superiore di Sanità in collaborazione con la SISM, affronterà alcuni aspetti correlati all’impiego delle microscopie ottiche ed elettroniche nel campo delle nanotecnologie con particolare riferimento al settore della nanomedicina (drug delivery). La giornata è rivolta sia a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia sia a chi opera nel campo della nanomedicina. Essa prevede una prima parte in cui esperti nel settore terranno relazioni ad invito, ed una seconda parte in cui verranno presentati relazioni orali selezionate tra i contributi liberi dei vari partecipanti; si prevede inoltre una sessione poster. Per questa iniziativa verrà richiesto al Ministero della Salute l’accreditamento nell’ambito del Programma Educazione Continua di medicina (ECM). Per informazioni: Dr.ssa Agnese Molinari.

Email: agnese.molinari@iss.it



Scuola introduttiva di Microscopia a Scansione di Sonda
Scuola teorico-pratica

Bologna, CNR-ISMN, ISOF, 17-21 Maggio 2010

La scuola introduttiva teorico-pratica di Microscopia a Scansione di Sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM) si terrà presso l’Area della Ricerca del CNR di Bologna, Via Gobetti 101, dal 17 al 21 maggio 2010. La scuola è organizzata dai ricercatori CNR dell`Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati (ISMN) e dell`Istituto per la Sintesi Organica e la Fotoreattività (ISOF) tutti attivi in SPM. L’obiettivo è introdurre gli aspetti teorici e sperimentali delle tecniche più diffuse della microscopia SPM. La scuola è indirizzata alle persone che non hanno conoscenza diretta o pratica della microscopia SPM e sono interessati a conoscerla o ad usarla. E’ richiesta una preparazione scientifica di base. Due giorni (Lunedì-17/05 e Martedì-18/05) saranno dedicati alla teoria senza restrizione nel numero di studenti (max 70). I restanti giorni (Mercoledì-19/05, Giovedì-20/05 e Venerdì-21/05) saranno dedicati ad attività sperimentale, con un massimo di 12 studenti a rotazione su sei microscopi diversi: AFM, STM, UHV-STM, AFM in liquido. E’ previsto un modulo di preparazione campioni. E’ possibile iscriversi alla sola parte teorica. Le lezioni e i laboratori saranno in Inglese in presenza di studenti e giovani ricercatori stranieri. La scadenza per le domande di partecipazione alla scuola è il 16/04/2010. Dr. Fabio Biscarini (f.biscarini@bo.ismn.cnr.it), direttore della Scuola. Docenti: Cristiano Albonetti (c.albonetti@bo.ismn.cnr.it), Eva Bystrenova, Massimiliano Cavallini, Alessandro Gambardella, Andrea Liscio, Vincenzo Palermo, Francesco Valle.

Email: c.albonetti@bo.ismn.cnr.it



6°Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche

Modena, 23-24 Settembre 2010

2010Il Dipartimento di Biologia ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Universitàdi Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la SocietàItaliana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) ela SocietàItaliana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il 6°Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche. Il corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico.Nella prima giornata, il corso prevede lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità. La seconda giornata di corso saràincentrata sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte direttamente al computer.

Email: e-mail: davide.malagoli@unimore.it



Scuola di Microscopia Elettronica “Pier Giorgio Merli”
Corso Teorico Pratico di Microscopia Elettronica in Trasmissione in Scienza dei Materiali

Area della Ricerca di Bologna, Via Gobetti 101 – 40129 Bologna
22 – 26 Novembre 2010 / 7 –11 Febbraio 2011

La scuola avrà una durata di due settimane e si rivolge a ricercatori e microscopisti che desiderano acquisire una qualificata introduzione alle tecniche di microscopia elettronica in trasmissione applicata alla scienza dei materiali. Ai partecipanti verrà fornito un quadro teorico di base della disciplina e una descrizione delle principali applicazioni nell’indagine strutturale ed analitica. Gli argomenti trattati saranno: ottica e diffrazione elettronica, elementi di cristallografia, teoria del contrasto, risoluzione atomica con tecniche di imaging coerenti (HREM) e incoerenti (STEM con rivelatore HAADF), olografia elettronica, tecnica CBED, metodi analitici EDS e EELS. La scuola sarà strutturata in una parte teorica, durante la prima settimana, ed una parte pratica la seconda settimana. Sarà possibile la partecipazione all’intero corso, o alla sola parte teorica, ma non alla sola parte pratica. Durante la parte pratica gli studenti potranno operare al microscopio TECNAI F20 sotto la guida dei docenti, per esercitarsi nell’applicazione pratica delle nozioni acquisite durante la prima parte della Scuola. Saranno inoltre illustrati programmi di simulazione e di elaborazione dei dati sperimentali, indispensabile corredo di numerose tecniche di indagine.

Email: balboni@bo.imm.cnr.it

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Scuola di Microscopia Elettronica “Pier Giorgio Merli”
Corso Teorico Pratico di Microscopia Elettronica in Trasmissione in Scienza dei Materiali

Area della Ricerca di Bologna, Via Gobetti 101 – 40129 Bologna
22 – 26 Novembre 2010 / 7 –11 Febbraio 2011

La scuola avrà una durata di due settimane e si rivolge a ricercatori e microscopisti che desiderano acquisire una qualificata introduzione alle tecniche di microscopia elettronica in trasmissione applicata alla scienza dei materiali. Ai partecipanti verrà fornito un quadro teorico di base della disciplina e una descrizione delle principali applicazioni nell’indagine strutturale ed analitica. Gli argomenti trattati saranno: ottica e diffrazione elettronica, elementi di cristallografia, teoria del contrasto, risoluzione atomica con tecniche di imaging coerenti (HREM) e incoerenti (STEM con rivelatore HAADF), olografia elettronica, tecnica CBED, metodi analitici EDS e EELS. La scuola sarà strutturata in una parte teorica, durante la prima settimana, ed una parte pratica la seconda settimana. Sarà possibile la partecipazione all’intero corso, o alla sola parte teorica, ma non alla sola parte pratica. Durante la parte pratica gli studenti potranno operare al microscopio TECNAI F20 sotto la guida dei docenti, per esercitarsi nell’applicazione pratica delle nozioni acquisite durante la prima parte della Scuola. Saranno inoltre illustrati programmi di simulazione e di elaborazione dei dati sperimentali, indispensabile corredo di numerose tecniche di indagine.

Email: balboni@bo.imm.cnr.it

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