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Eventi SISM

Tecniche microscopiche e di imaging per lo studio delle pellicole pittoriche
Giornata di Studio

Pavia, 20 giugno 2006

L`incontro, che si terrà in un`aula storica dell`Università di Pavia, ha lo scopo di presentare le tecniche di indagine microscopica e di analisi delle immagini, nelle loro applicazioni allo studio, alla conservazione ed al restauro di pellicole pittoriche; si svilupperà nell`arco di una giornata e sarà indirizzato non solo a ricercatori, studenti e tecnici del restauro, ma anche a tutti coloro che, in forme diverse, si interessano alla tutela del patrimonio pittorico, sia dal punto di vista storico-artistico che da quello più strettamente tecnico-metodologico. Attraverso interventi di studiosi ed esperti del settore, si intende illustrare l`importanza che le indagini microscopiche e di imaging hanno nel descrivere le caratteristiche materiali di un`opera pittorica e le sue condizioni attuali, nel prevedere l`evoluzione del suo stato di conservazione e nell`indirizzare la scelta delle tecniche e dei materiali idonei ad interventi di restauro.

Email: pelli@unipv.it



Workshop and intensive training on Confocal and Two photon excitation microscopy
Scuola teorico-pratica SISM

Genova, 4-7 luglio 2006

I più noti esperti nazionali ed internazionali parteciperanno come docenti a questa Scuola che utilizza un format ormai consolidato. Verranno trattati i principi della microscopia confocale 3D, le tecniche di imaging, le metodiche FRET, FRAP, FLIM e si approfondiranno alcune applicazioni in campo biomedico. Ampio spazio verrà lasciato alla parte pratica che si avvale di numerosi strumenti fra i più avanzati tecnologicamente e la suddivisione dei partecipanti in piccoli gruppi permetterà di interagire con i docenti per dare vita a stimolanti discussioni e per approfondire diversi aspetti tecnico-metodologici per chi non ha grande esperienze in microscopia confocale, ma anche chi da tempo lavora nel settore della microscopia a fluorescenze e confocale, troverà in questa Scuola continui stimoli e nuove possibilità applicative.

Email: diaspro@fisica.unige.it



La fibra muscolare scheletrica: aspetti morfo-funzionali e tecniche di studio
Workshop teorico-pratico SISM

Urbino, 3-6 ottobre 2006

Il Workshop, che si svolgerà presso il Campus Scientifico dell` Università degli Studi di Urbino `Carlo Bo`, si articolerà in una serie di interventi di valenti studiosi italiani mirati allo studio della fibra muscolare scheletrica mediante diversi approcci morfologici; inoltre, alcune relazioni sottolineeranno l`importanza della complementarietà delle tecniche morfo-funzionali per comprendere la biologia e la patologia della fibra muscolare e la loro rilevanza per le applicazioni in medicina riparativa e riabilitativa. Al fine di favorire la discussione scientifica, di ampliare le interazioni fra i docenti e partecipanti e di promuovere lo scambio di esperienze verrà allestita una sessione poster. Per un numero limitato di partecipanti, verranno inoltre organizzate dimostrazioni pratiche (colture di cellule muscolari, microscopia confocale, microscopia time-lapse, TEM, SEM, elettrofisiologia, analisi proteomica) con preparazione e osservazione di campioni predisposti dagli organizzatori o, eventualmente, da ricercatori interessati partecipanti. Per questo workshop è previsto l`accreditamento ECM da parte del Ministero della Sanità per diverse figure professionali.

Email: falcieri@uniurb.it



Microscopia Elettronica a Scansione in Scienza dei Materiali
Scuola teorico-pratica SISM

Lecce, 20-24 Novembre 2006

La scuola sarà organizzata congiuntamente da SISM ed AISEM, sarà rivolta a tecnici e ricercatori, e affronterà con un approccio fondamentale gli aspetti più importanti nell`ambito della caratterizzazione morfologico-strutturale di materiali tramite il microscopio elettronico a scansione. Attenzione sarà anche rivolta alle tecniche di elaborazione e gestione delle immagini. La scuola prevederà due parti: una teorica in cui verranno affrontati tutti gli argomenti fondamentali (struttura del microscopio elettronico, elementi di ottica elettronica, rivelatori e segnale, tecniche di osservazione, microanalisi) ed una sperimentale. Sarà possibile partecipare alla sola parte teorica (numero di partecipanti aperto), alla sola parte sperimentale (numero di partecipanti limitato ad un massimo di 30 unità), o ad entrambe. Grazie al sostegno delle principali ditte del settore, saranno presenti 4-5 microscopi elettronici con differenti caratteristiche tecniche: un microscopio convenzionale con filamento La2B6 dotato di microanalisi a raggi X, un microscopio a bassa pressione, due microscopi FEG ad alta risoluzione, un Focused Ion Beam. Sarà organizzato anche un laboratorio di analisi di immagine e di simulazione Monte Carlo. Sarà inoltre possibile eseguire sessioni dimostrative su un TEM installato presso il CNR-IMM Lecce. Alla parte sperimentale della scuola sarà dedicata grande attenzione. I partecipanti saranno suddivisi in piccoli gruppi (massimo 5-6 unità per gruppo) e svolgeranno esercitazioni sperimentali approfondite guidate dai docenti e da tecnici delle case costruttrici, su ognuna delle macchine disponibili, ed avranno la possibilità di utilizzare personalmente gli strumenti sotto la guida dei tecnici stessi e dei docenti del corso, allo scopo di approfondire, da un punto di vista sperimentale, gli argomenti affrontati nelle lezioni teoriche. Grazie alla possibilità di organizzare la scuola nei nuovi edifici del CNR-IMM, tutte le esercitazioni saranno tenute presso laboratori situati all’interno del Campus Universitario, dove il CNR-IMM Lecce ha sede. Sarà possibile osservare campioni di interesse dei partecipanti, purché essi arrivino già preparati al Comitato Organizzatore della Scuola con sufficiente anticipo. E’ previsto un test finale di valutazione dell’apprendimento allo scopo di favorire laureandi e/o dottorandi che desiderino richiedere il riconoscimento di CFU.

Email: massimo.catalano@le.imm.cnr.it



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